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M-Z光學(xué)干涉儀
- 產(chǎn)品型號：
- 更新時(shí)間：2024-06-19
- 產(chǎn)品介紹：M-Z光學(xué)干涉儀通過(guò)比較被測物和參考物的相位（表現為條紋的變化），從而實(shí)現被測物的物理量的測量。
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產(chǎn)品介紹
M-Z光學(xué)干涉儀產(chǎn)品說(shuō)明：
馬赫-曾德干涉儀屬于一種等光程比較干涉。通過(guò)比較被測物和參考物的相位（表現為條紋的變化），從而實(shí)現被測物的物理量的測量。馬赫-曾德干涉儀通常用于測量透明介質(zhì)折射率的微小變化，可用于氣體、液體、透明固體、沖擊波及熱傳導等方面的研究。
M-Z光學(xué)干涉儀技術(shù)參數：
參數 | 大值 | 小值 | 備注 |
視場(chǎng) | Φ500mm | Φ50mm | |
干涉條紋間距 | 無(wú)窮大 | 0.1mm | |
圖像分析軟件 | 滿(mǎn)足干涉條紋背景濾波、二值化、細化與修像、標記、采樣讀數、物理參數計算讀取等功能 | ||
成像傳感器 | 數碼單反相機、高速相機、記錄干板 | ||
光源 | 532nm激光光源、632.8nm激光光源 | ||
其他 | 系統采用有效的減振方式 | ||
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